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比表面分析儀

比表面分析比表面分析儀

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BSD-BET400鐵氧體比表面分析

更新時間：2024-10-25

型號：BSD-BET400

瀏覽量：2356

鐵氧體比表面分析具有國內(nèi)*氣體凈化冷阱,使氣體純度提高1個數(shù)量級以上；具有國內(nèi)*粒度模型估算數(shù)據(jù)處理功能，并給出粒度估算報告；此功能能夠根據(jù)比表面儀積給出各個模型下的平均粒度，對研究者判斷顆粒形態(tài)起到指導(dǎo)作用；具有國內(nèi)*一體式脫氣裝置（非分體式），解決了脫氣、測試一體化問題，實現(xiàn)了試樣原位處理，只需一次安裝，與空氣零接觸，保證了樣品預(yù)處理的高效性與有效性。
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BSD-BET400四氧化三鐵比表面分析

更新時間：2024-10-25

型號：BSD-BET400

瀏覽量：3172

四氧化三鐵比表面分析有國內(nèi)*程控風(fēng)熱助脫裝置，保證得到尖銳快速的脫附峰，減少背景誤差；具有國內(nèi)*檢測器恒溫系統(tǒng)，使檢測器10min的漂移試小于0.1mV,保證測試結(jié)果的準(zhǔn)確性與穩(wěn)定性；具有國內(nèi)*氣體凈化冷阱,使氣體純度提高1個數(shù)量級以上。
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BSD-BET400金屬粉末比表面分析

更新時間：2024-10-25

型號：BSD-BET400

瀏覽量：2921

金屬粉末比表面分析比表面分析液氮溫度可監(jiān)測,消除普通工業(yè)液氮溫度差異影響,使用條件寬泛；室溫監(jiān)測,消除環(huán)境溫度影響。硬件采用穩(wěn)定而耐用的部件，關(guān)鍵部件全部采用進(jìn)口配件，經(jīng)過嚴(yán)格檢測，適合頻繁測試；有國內(nèi)*氣體凈化冷阱,使氣體純度提高1個數(shù)量級以上。
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BSD-BET400硅微粉比表面分析

更新時間：2024-10-25

型號：BSD-BET400

瀏覽量：2723

硅微粉比表面分析測試精度高、重現(xiàn)性好。BET多點法、BET單點法、Langmuir多點法、Langmuir單點法、測試相對誤差小于±2%；測試時間:BET多點法,同時可測試4個樣品，測試速度平均每個樣品每分壓點測定時間約5分鐘,平均每個樣品總用時約30min；具有國內(nèi)*程控六通閥標(biāo)定系統(tǒng)，動作周期小于10毫秒；并且定量管體積程控切換。
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BSD-660碳化硅全自動氮吸附比表面分析儀

更新時間：2024-10-24

型號：BSD-660

瀏覽量：2377

碳化硅全自動氮吸附比表面分析儀是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點的吸附量；再通過BET或Langmuir等理論公式計算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線；再通過吸附脫附等溫線的數(shù)據(jù)計算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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BSD-660石墨粉比表面分析

更新時間：2024-10-24

型號：BSD-660

瀏覽量：2323

石墨粉比表面分析是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點的吸附量；再通過BET或Langmuir等理論公式計算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線；再通過吸附脫附等溫線的數(shù)據(jù)計算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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BSD-660石墨比表面分析

更新時間：2024-10-24

型號：BSD-660

瀏覽量：2427

石墨比表面分析是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點的吸附量；再通過BET或Langmuir等理論公式計算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線；再通過吸附脫附等溫線的數(shù)據(jù)計算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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BSD-660活性碳比表面分析

更新時間：2024-10-24

型號：BSD-660

瀏覽量：2014

活性碳比表面分析是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點的吸附量；再通過BET或Langmuir等理論公式計算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線；再通過吸附脫附等溫線的數(shù)據(jù)計算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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