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  • BSD-PS比表面積及孔隙度測(cè)試儀
    BSD-PS比表面積及孔隙度測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

    瀏覽量：1643

    比表面積及孔隙度測(cè)試儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PS比表面及孔隙度測(cè)試儀
    BSD-PS比表面及孔隙度測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

    瀏覽量：2061

    比表面及孔隙度測(cè)試儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PS煤炭孔隙度測(cè)定儀
    BSD-PS煤炭孔隙度測(cè)定儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

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    煤炭孔隙度測(cè)定儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PS納米粉體材料孔隙度測(cè)定儀
    BSD-PS納米粉體材料孔隙度測(cè)定儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

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    納米粉體材料孔隙度測(cè)定儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PS氧化金屬孔隙度測(cè)定儀
    BSD-PS氧化金屬孔隙度測(cè)定儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

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    氧化金屬孔隙度測(cè)定儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PS氧化亞鐵孔隙度測(cè)定儀
    BSD-PS氧化亞鐵孔隙度測(cè)定儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

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    我公司自行研發(fā)生產(chǎn)的全自動(dòng)氮吸附比表面積儀，氧化亞鐵孔隙度測(cè)定儀，測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PS鐵氧體孔隙度測(cè)定儀
    BSD-PS鐵氧體孔隙度測(cè)定儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

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    鐵氧體孔隙度測(cè)定儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PS白碳黑孔隙度測(cè)定儀
    BSD-PS白碳黑孔隙度測(cè)定儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

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    公司自行研發(fā)生產(chǎn)的全自動(dòng)氮吸附比表面積儀，白碳黑孔隙度測(cè)定儀，測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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